08. Januar 2009
NI-Seminartour 2009 „Messen – Analysieren – Darstellen“
Ab dem 9. Februar 2009 startet das neue Fortbildungsseminar von National Instruments zum Thema „Messen – Analysieren – Darstellen“, das in 25 Städten in Deutschland, Österreich und der Schweiz stattfinden wird. In diesem Seminar werden in der Hauptsache drei Trends betrachtet, die in den letzten Jahren die Entwicklung der PC-basierten Datenerfassung wesentlich beeinflussen: USB, Wireless und FPGA.
USB 2.0 ist nicht zuletzt wegen seiner Plug-and-play-Fähigkeit zu einem Standardbus für die Datenerfassung avanciert. Auch Wireless mit dem Standard IEEE 802.11 ist eine weitere vielversprechende Technologie, zur Erfassung von Daten an schwer zugänglichen Orten in industrieller Umgebung. Der dritte Trend ist die Verwendung von FPGA (Field-Programmable Gate Arrays) für die intelligente Datenerfassung. FGPA erlauben es dem Anwender, benutzerdefinierte Aufgaben in Hardware zu implementieren und jederzeit zu rekonfigurieren.
In diesem Seminar wird den Teilnehmern demonstriert, wie sie schnell mit Labview Daten erfassen und auswerten können. Dabei kommen unterschiedliche Hardware-Produkte von National Instruments zum Einsatz, die alle auf den oben beschriebenen Trends basieren.
Ein weiterer Schwerpunkt des Seminars ist das Datenmanagement. Bei Diadem handelt es sich um die Standard-Software für die interaktive und automatisierte Datenverwaltung, Datenanalyse und Berichterstellung. Dank der Unterstützung unterschiedlicher Dateiformate und Datenbanken ermöglicht die Software die Auswertung von Mess- und Simulationsdaten nahezu beliebiger Herkunft. Teilnehmer lernen die diversen Analyse- und Datenverwaltungsfunktionen kennen, mit denen die zuvor erfassten Daten weiterverarbeitet und verwaltet werden.
Das Praxisseminar ist kostenlos. Allen Teilnehmern wird ein Handbuch mit detaillierten Informationen ausgehändigt. Interessenten können sich unter ni.com/german/seminartour anmelden sowie die Agenda und alle Termine und Veranstaltungsorte einsehen.
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